Сканирующий зондовый микроскоп di Innova SPM (Veeco-Digital Instruments)
14 сентября 2018
362
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Тамбовская область, Тамбов |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Мультимодовый зондовый сканирующий
микроскоп, объединяющий возможности всех мод
атомно-силовой и туннельной микроскопии с
разрешением вплоть до атомарного, позволяет
проводить измерения характеристик рельефа
поверхности проводящих и полупроводниковых
структур, а также их электрических, магнитных и
других свойств в контролируемых температурных
условиях, отличных от комнатных.
микроскоп, объединяющий возможности всех мод
атомно-силовой и туннельной микроскопии с
разрешением вплоть до атомарного, позволяет
проводить измерения характеристик рельефа
поверхности проводящих и полупроводниковых
структур, а также их электрических, магнитных и
других свойств в контролируемых температурных
условиях, отличных от комнатных.