| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Тамбовская область, Тамбов |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 20 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Измерительный комплекс, включающий сканирующий зондовый микроскоп, ближнепольный оптический микроскоп и конфокальный микрорамановский спектрометр высокого разрешения. Предназначен для проведения измерений характеристик рельефа
поверхности образца, а также его электрических, магнитных, наномеханических и других свойств методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии и наносклерометрии с разрешением вплоть до атомарного.
поверхности образца, а также его электрических, магнитных, наномеханических и других свойств методами контактной и полуконтактной атомно-силовой микроскопии и наносклерометрии с разрешением вплоть до атомарного.