Просвечивающий электронный микроскоп Titan 80-300 (FEI) с probe- корректором сферических аберраций
14 сентября 2018
407
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор предназначен для изучения внутренней микро- и нано- структуры исследуемых материалов, их локального химического состава, типа и параметров кристаллической решетки. Латеральное разрешение 0.79 Ангстрем. Диапазон энергий электронов 80-300 кВ. Энергетическое разрешение EELS 0.7 эВ, пространственное разрешение 0.1 нм.