Растровый электронно-ионный микроскоп Helios Nanolab 600i (FEI)
14 сентября 2018
304
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Представляет собой комбинацию фокусированного ионного пучка (ФИП) и сканирующегоэлектронного микроскопа. Предназначен для восстановления 3D-структуры образца посредством послоевого травления образца с помощью ФИП, подготовки образцов для ПЭМ, проведения микроанализа элементов сечения дефекта