Сканирующий зондовый микроскоп MULTIMODE 8 (Veeco Instruments)
14 сентября 2018
293
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 10 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Реализует весь набор методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) и сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), выдавая характеристики поверхности, такие как топография, упругость, трение, адгезия и распределение магнитного и электрического полей. Короткий оптический путь между зондом и образцом обеспечивает высокие скорость сканирования и точность.
Электрохимические приставки позволяют работать в режимах электрохимической сканирующей туннельной микроскопии (ЭХСТМ), электрохимической атомно-силовой микроскопии (ЭХАСМ) и микроскопии электрохимического потенциала. Образцы проб – твердые вещества, в том числе порошки V – 1 х 1 х 0,8 см
Электрохимические приставки позволяют работать в режимах электрохимической сканирующей туннельной микроскопии (ЭХСТМ), электрохимической атомно-силовой микроскопии (ЭХАСМ) и микроскопии электрохимического потенциала. Образцы проб – твердые вещества, в том числе порошки V – 1 х 1 х 0,8 см