Сканирующий туннельный микроскоп UnderSEM-377
14 сентября 2018
258
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 4 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Устанавливается внутрь электронных микроскопов (SEM) с открывающейся камерой и вакуумом до 10-7 Торр на место держателя образца вместе с образцом. Образец открыт для SEM и его анализаторов. Туннельная игла подводится сбоку и даёт разрешение просматриваемой в SEM точки образца вплоть до атомарного. В SEM наблюдается процесс сканирования туннельной иглой. Не требует виброразвязок из-за высокой резонансной частоты 38 кГц. Поле 2/2/0.6 мкм. Работает режим туннельной спектроскопии.