Сканирующий туннельный микроскоп СТМ-НЛ-2.0 (Протон-МИЭТ)
14 сентября 2018
274
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 100 т.р. |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Микроскоп имеет режим СТМ с разрешением до 3 Å, поле до 6/6/1 мкм и имеет режим СТМ-нанолитографии с амплитудой импульсов до 15 В.