Спектрометр последовательный рентгенофлуоресцентный XRF-1800 (Shimadzu)

Предназначен для проведения быстрого и точного количественного анализа химического состава твердых, порошковых и жидких проводящих и непроводящих проб. Приборами данной серии может решаться широкий диапазон задач: от мониторинга нескольких элементов в маслах, полимерах, цементе или горных породах до полного анализа стекла, металлов, руды, огнеупоров и геологических материалов. Преимуществом XRF метода перед другими методами элементного анализа являются отсутствие необходимости разрушения образца, высокая скорость анализа, более простая система подготовки проб, высокие стабильность работы и сходимость результатов, широкий динамический диапазон определяемых содержаний (от ppm до 100 %). Модульность, надежность, скорость анализа и последние микропроцессорные технологии обеспечивают простоту в эксплуатации, максимальную результативность и быструю окупаемость.