Автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения Ultra Plus (Carl Zeiss) на базе Ultra 55 с приставкой рентгеновского микроанализа INCA Energy 350 XT (Oxford Instruments)
14 сентября 2018
414
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений с поверхности, излома или шлифа образца, определение размеров структурных составляющих и локального элементного состава
