Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
715
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | — |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет проводить комплексные исследования морфологии, элементного состава, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм.