| Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
| Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Калининград |
| Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
| Растровый электронный микроскоп JSM 6510LA (JEOL) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Челябинск |
| Термополевой просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-3200FS |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
| Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100F (JEOL) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
| Система микроанализа для растрового электронного микроскопа JEOL JSM-6490LV |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Магнитогорск |
| Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
