Стенд оптической характеризации наноструктур фотоники методом резонансного экситонного отражения
14 сентября 2018
176
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Стенд оптической характеризации наноструктур фотоники методом резонансного экситонного отражения
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Стенд для измерения спектральных зависимостей чувствительности элементов матричных ИК детекторов на основе. Стандартные элементы, входящие в установку: Инфракрасный спектрометр; Синхронный детектор | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Стенд ИК-Фурье спектрометр IRAffinity (Shimadzu) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Иркутск |
| Фурье-Спектрометр «Инфралюм ФТ-801», программный комплекс «ExpertPro801» с приставкой зеркального и диффузионного отражения. | РФ | Аренда, Заказ исследования | Томск |
| ИК-спектрофотометр "СФ-2000" с приставкой зеркального и диффузного отражения | РФ | Аренда, Заказ исследования | Краснодар |