Аналитический высокоразрешающий просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром IETEM INCA-250
14 сентября 2018
300
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 8 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | По договору. Стоимость работ - в зависимости от характера и объемов исследований. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет получить разрешение по точкам в 0.194 нм и картины микродифракции электронов, оборудован гониометром, который даёт возможность вращать изучаемый кристалл вокруг вертикальной оси на ±30.Возможен количественный анализ тонких частиц в условиях нормировки суммы к 100 % с локальностью до 3 нм.