Аналитический сканирующий электронный микроскоп JSM-5610LV (JEOL) оснащённый рентгеновским энергодисперсионным спектрометром INCA 450
14 сентября 2018
358
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2001 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | По договору. Стоимость работ - в зависимости от характера и объемов исследований. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Обеспечивает получение изображение во вторичных и в отражённых электронах с увеличениями 50х–40 000х. Аналитический блок представляет собой энергодисперсионный спектрометр (ЭДС) и способен обнаруживать элементы, начиная с бериллия. Количественный анализ осуществляется для всех элементов, начиная с Na.