Растровый электронный микроскоп JSM-6510LV (JEOL) с системой микроанализа INCA Energy 350
14 сентября 2018
318
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Бурятия, Улан-Удэ |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 760 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Для внутренних пользователей услуги оказываются на основании подачи заявки по утвержденной форме. Подача заявки проводится в письменной или электронной форме. Для внешних пользователей услуги оказываются на основании заключенного договора по установленной |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для проведения исследований поверхности различных материалов с высоким разрешением в двух режимах (HV, LV); исследование изломов и повреждений поверхности с целью выявления особенностей поверхности разрушения; определение качественного и количественного состава образцов в диапазоне элементов от B до U.