Система анализа дифракции обратно-рассеянных электронов EBSD NordlysNano (Oxford Instruments) для работы с электронным сканирующим микроскопом
14 сентября 2018
614
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Структурный, текстурный, фазовый анализ микрообъектов на основе исследования дифракции обратно-рассеянных электронов