Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп LSM 780 (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
355
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 800 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Лазерный сканирующий конфокальный микроскоп последнего поколения LSM 780 (Carl Zeiss, Германия) базируется на прямом исследовательском микроскопе Axio Imager Z2. Лазерный блок с мощной системой активного охлаждения включает: диодный лазер 405 нм (30 мВ); аргоновый мультилинейный (458 нм, 488 нм и 514 нм) лазер (25 мВ); DPSS твердотельный лазер 561 нМ с диодной накачкой (20 мВ); He-Ne лазер 594 нМ; He-Ne лазер 633 нМ (5 мВ). В системе детекции LSM 780 отраженный сигнал в фиолетовой части спектра анализируется стандартными фотоумножителями, в зеленой – GaAsP детекторами, и в красной – охлаждаемыми фотоумножителями. 32 канальные детекторы GaAsP с высочайшей чувствительностью к фотонам. Таким образом, реализуется сбор сигнала с максимальной чувствительностью и практически без потерь. Сканирующий блок имеет возможность одновременного сканирования на 34 спектральных каналах, что позволяет получать больше информации при меньшем фото-облучении объекта. Спектральное разрешение сканирования – 3 нм. Сканирование объектов (xyzα) с последующей реконструкцией трехмерных изображений; прижизненные исследования живых объектов в режиме реального времени (xyzt) с последующей реконструкцией трех- и четырехмерных изображений; компьютерные методы деконволюции, обработка и анализ конфокальных изображений со статистической оценкой результатов 3-D анализа; современные методы фотоманипуляции, FRET, FRAP, подсчет фотонов и др.