Просвечивающий электронный микроскоп JEM 2100-F (JEOL)
14 сентября 2018
411
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Рязанская область, Рязань |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 9 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения изображения исследуемого объекта используется отдельный дифрагированный или прошедший пучок, и контраст изображения обусловлен изменениями интенсивности пучка вследствие локальных искажений кристаллической решетки (деформационных полей), разориентации отдельных блоков, различия в элементном составе. Пространственное разрешение в дифракционном режиме ограничено размером апертуры, отсекающей неиспользуемые пучки, и составляет 0.3 : 0.5 нм. Посредством перемещения плоскости регистрации в фокальную плоскость объективной линзы в дополнение к изображению исследуемого объекта регистрируется картина электронной дифракции с заданного участка.