Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon)
Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon)

Микроскоп для контроля качества пластин L200 (Nikon)

ООО "Совтест АТЕ"
14 сентября 2018
637
Классификация оборудования
Приборы для микроскопических исследований
Страна, регион, город Российская Федерация, Курская область, Курск
Страна производства Япония
Год производства 2012
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Обеспечивает получение изображений великолепной контрастности, высокого разрешения, а картинка в темном поле теперь в три раза ярче, чем в микроскопах предыдущего поколения. Обеспечивают исключительную точность в процессе оптического контроля полупроводниковых пластин, фотошаблонов, сеток и прочих подложек.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Комплект для визуального анализа на базе микроскопа "Микромед" 2 вар. 3-20 РФ Аренда, Заказ исследования Омск
Модуль для тестирования НЕКСТ РФ Аренда, Заказ исследования Якутск
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Цифровая камера для микроскопа DCM35 (350k pixels, USB2.0), 2-07 РФ Аренда, Заказ исследования Кострома
Комплекс оборудования для неразрушающей металлографии UHL Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Настольный автоматический напылительный комплекс токопроводящих покрытий для растровой электронной микроскопии Quorum Technologies Q150T ES Великобритания Аренда, Заказ исследования Краснодар
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Источник бесперебойного питания в комплекте(для просвечивающего микроскопа) США Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Система для цветовой визуализации с цифровой камерой и адаптером Axio Scope.A1-s Германия Аренда, Заказ исследования Архангельск