Сканирующий электронный микроскоп S50 EDAX PRIME EDS (FEI INSPECT) с термоэмиссионным источником электронов и системой элементного анализа
14 сентября 2018
462
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 1 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Фрактография изломов металлов, исследование структуры поверхности материалов, включая и биообъекты. |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование структуры поверхности любых твердотельных объектов: металлы, неметаллы, биообъекты и др.; поэлементный химический анализ от Be до U, распределение по поверхности образца. Получение изображения поверхности исследуемого материала с разрешением до 3 нм.