Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX/900HS (Shimadzu)
14 сентября 2018
410
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Кировская область, Киров |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок. Программное обеспечение позволяет определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий. Метод фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы. Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях).