ИК-тепловизионный микроскоп УТК-1 (ИФП СО РАН)
14 сентября 2018
697
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Тепловизор для крупных объектов (матрицы, модули, сбороки) и тепловизионный микроскоп для отдельных кристаллов. Прибор имеет в своей основе гибридную микросхему матричного фотоприемного устройства InAs 128x128, шаг элементов 50 мкм, чувствительного в диапазоне длин волн 2.5÷3.1 мкм. В ИК-микроскопе при использовании сменных объективов возможно исследование объектов размерами от десятков микрометров до единиц миллиметров. Достигнутое температурное разрешение составляет ~ 1K для объектов, имеющих температуру в диапазоне 300 - 450К.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Тепловизионный комплект М 7604F | Германия | Аренда, Заказ исследования | Самара |
| Тепловизионный сканер «АВРОРА» | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Тепловизионный комплекс "Термовед Энергоаудит" | РФ | Аренда, Заказ исследования | Тюмень |
| Fluke Tis - Тепловизионный сканер | США | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Тепловизионный комплекс G-120М (NEC Avio) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Екатеринбург |