Двулучевая электронно-ионная система сверхвысокого разрешения Cross Beam XB 540
14 сентября 2018
436
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Калининградская область, Калининград |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 28 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для микро- и наномодификации различных материалов. Исследование на микро- и наноструктур с высокой точность позиционирования и устойчивой системой зондирования.Реализуемые методы:-3D прототипирование - нанотомография- ионная и электронная литография- сканирующая зондовая микроскопия- электрические измерения