Рентгено-флуоресцентный спектрометр с волновой дисперсией XRF-1800 (Shimadzu)
14 сентября 2018
396
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Томская область, Томск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2004 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для определения химического (элементного) состава в микрообъемах. Диапазон определяемых элементов - От бериллия до урана, базовая комплектация от кислорода до урана; Кристаллы-анализаторы LiF (200), PET, Ge, TAP стандартные; LiF(220), ADP, SX-52, SX-1, SX-14, SX-48, SX-76, SX-410, SX-88, SX-98 опции Система подачи газа.