Вторичный ионный масс-спектрометр IMS-4F (CAMECA)
14 сентября 2018
676
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Франция |
| Год производства | 2006 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор может работать в двух режимах:
Ионный микроскоп: с помощью ионной оптической системы в фокальной плоскости анализатора создаётся отсепарированное по массе ионное изображение поверхности подобно тому, как это происходит в оптическом и просвечивающем электронном микроскопе. Для создания однородной плотности изображения первичный пучок разворачивается в растр. При этом его диаметр может оставаться достаточно большим, что никак не сказывается на латеральном разрешении, которое определяется только настройкой ионно-оптической системы и может достигать 1 мкм.
Ионный микрозонд: спектрометр работает по принципу растрового электронного микроскопа, в котором электронный пучок заменён ионным. В этом случае латеральное разрешение определяется диаметром первичного ионного пучка.
Ионный микроскоп: с помощью ионной оптической системы в фокальной плоскости анализатора создаётся отсепарированное по массе ионное изображение поверхности подобно тому, как это происходит в оптическом и просвечивающем электронном микроскопе. Для создания однородной плотности изображения первичный пучок разворачивается в растр. При этом его диаметр может оставаться достаточно большим, что никак не сказывается на латеральном разрешении, которое определяется только настройкой ионно-оптической системы и может достигать 1 мкм.
Ионный микрозонд: спектрометр работает по принципу растрового электронного микроскопа, в котором электронный пучок заменён ионным. В этом случае латеральное разрешение определяется диаметром первичного ионного пучка.
