Оже-электронный спектрометр PHI-660 (PerkinElmer)
14 сентября 2018
522
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 1987 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Анализ элементного состава поверхности и распределение элементов по глубине (отLi до U). Разрешение по глубине 3 нм. Локальность 0,1 мкм. Чувствительность 0,1 ~ 1,0 ат.%.