Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп Solver P47-Pro (НТ-МДТ)
14 сентября 2018
346
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследований свойств поверхности с высоким разрешением на воздухе. Конструкция прибора позволяет реализовывать различные методики сканирующей туннельной микроскопии; контактной атомно-силовой микроскопии (метод постоянной силы, метод латеральных сил, метод постоянной высоты и др.); резонансной атомно-силовой микроскопии (полуконтактная и бесконтактная); АСМ спектроскопии (силовая, токовая, апертурная, фазовая и др.); а также магнито-силовой микроскопии. Кроме того, прибор оснащен собственной системой виброизоляции для получение сверх-высокого разрешения без дополнительной виброзащиты (вплоть до атомарного).