Растровый электронный микроскоп Supra 40 VP (Carl Zeiss)
14 сентября 2018
490
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Исследуемые материалы: диэлектрики, полупроводники и структуры на их основе, металлы и сплавы, геологические объекты. Требования к образцам: Максимальный размер образца (диаметр - 100 мм, высота 50 мм). Образцы должны быть электропроводящие, либо на повер |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Микроскоп снабжен системой компьютерного контроля сканирования электронным пучком и цифровой регистрацией сигналов и изображения, рентгеноспектральный микроанализатор INCA WAVE и INCA X-MAX. Получение изображения поверхности в режиме растровой электронной микроскопии (во вторичных и обратноотраженных электронах).