Микроскоп с приставкой ионного пучка V600CE FOCUSED ION BEAMS (FEI)
14 сентября 2018
359
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Предназначен для полупроводниковых лабораторий, применяющиеся для внесения изменений в микросхемы. Он многофункционален и позволяет быстро проводить анализ и модифицировать схемы с использованием только одной колонны - сфокусированного пучка ионов (ФИП), который эффективно обеспечивает высокую пропускную способность при модификациях схем, приготовлении поперечных срезов и анализе неисправностей.