Синхронный детектор SR 810 (Stanford Research System)
14 сентября 2018
552
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 6 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для детектирования спектров излучения полупроводниковых и диэлектрических материалов (в том числе полупроводниковых наногетероструктур наоснове III-V соединений) в спектральном диапазоне 185 нм-1700нм с высокимспектральным разрешением (0,008 нм) и пространственным разрешением до (1 мкм).
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Рамановский спектрометр DXR Smart Raman Research (ThermoFisher Scientific Inc.). | США | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |
| Ультрафиолетовый диодноматричный детектор с проточной кюветой | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Дифрактометр рентгеновский базовый с подвижной системой излучатель-детектор XRD 7000 (Shimadzu) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Екатеринбург |