Электронный сканирующий микроскоп VEGA 3SBH (TESCAN) с ЭДС AZtec Energy X-act, Oxford Instruments
14 сентября 2018
421
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Башкортостан, Уфа |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | Фрактография поверхности изломовРазмер и форма частиц, в том числе наночастицОпределение элементного состава и структуры металлов и сплавов, качественного и количественного состава фазИсследования структуры металлов и сплавов, биологических объектов |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для изучения микроструктуры поверхности и локального элементного анализа металлов, керамики, неорганических порошков, волокон и др.