Микроскоп электронный сканирующий MIRA 3LMH (TESCAN) с системой анализа дифракции обратно-отраженных электронов (EBSD) HKL Channel 5 EBSD (Oxford Instruments)
14 сентября 2018
388
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Башкортостан, Уфа |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 2 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | Фрактография поверхности изломовРазмер и форма частиц, в том числе наночастицИсследования структуры металлов и сплавов биологических объектовИсследование кристаллографических ориентировок зерен и текстуры поликристаллов методом дифракции обратно-отраженны |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для изучения структуры и кристаллографических параметров поликристаллических материалов