Сканирующий туннельный микроскоп LT UHV SPM - Multiprobe S/XA (Omicron Nanotechnolgy)
14 сентября 2018
621
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Нижегородская область, Нижний Новгород |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет изучать пространственное распределение электронных свойств поверхности проводящих образцов в нормальном и сверхпроводящем состоянии при температурах от комнатной до температуры жидкого гелия с атомарным разрешением в диапазоне смещений ±10V, с максимальным током 3.3А (333A), получать спектры туннельного тока (локальная ВАХ) и, в режиме QPlus AFM, измерять профиль поверхности непроводящих образцов с атомарным разрешением на поверхности кристалла NaCl(100). Базовый уровень вакуума 10-10 mBar. Диапазон грубого позиционирования (XYZ) 5x5x10mm. Диапазон сканирования (XYZ): 10x10x1.5mkm (RT), 4x4x0.4mkm (