Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп TCS SL (Leica Microsystems)
14 сентября 2018
311
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 7 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для реализации неразрушающих методов контроля и измерений микрообъектов. Получение изображений с тонких слоев исследуемого объекта, объемная реконструкция полученных изображений. Проведение спектральных измерений микро-участков поверхности образца с высоким пространственным разрешением.