Растровый электронный микроскоп JSM 50A (Jeol)
14 сентября 2018
527
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 9 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция). Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)