Сканирующий электронный микроскоп VEGA II XMU (Oxford Instruments)
14 сентября 2018
475
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Карелия, Петрозаводск |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 9 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для определения концентрационного элементного профиля металлических материалов (кроме H и He), а также для исследования химического состава поверхности образца при помощи электронно-лучевых методов. Оснащен системой ионного травления образца, позволяющей проводить поверхностную очистку, а также глубинное профилирование элементного состава образца.