Сканирующий зондовый мультимикроскоп СММ-2000 (Протон) с атомно-силовым столиком
14 сентября 2018
446
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Иркутская область, Иркутск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 3 500 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Позволяет проводить анализ шероховатости и других характеристик поверхности, определять высоту и форму находящихся на ней нанообъектов. Эта информация необходима для проводимых в лаборатории исследований по типоморфизму и типохимизму минеральных поверхностей, диагностике, морфологии и свойствам нано-размерных частиц в экспериментальных и природных системах.
Технические характеристики:
реализует режимы туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии в контактной моде. Увеличение от 2000 до 1000 000 раз. Размер образца 20×20×6 мм. В режиме сканирующей туннельной микроскопии прибор обеспечивает на электропроводящих образцах разрешение до 0.3 нм. В атомно-силовом режиме максимальная контролируемая разрешающая способность по XY – 2.5 нм, по Z – 1.13 нм.
Технические характеристики:
реализует режимы туннельной микроскопии и атомно-силовой микроскопии в контактной моде. Увеличение от 2000 до 1000 000 раз. Размер образца 20×20×6 мм. В режиме сканирующей туннельной микроскопии прибор обеспечивает на электропроводящих образцах разрешение до 0.3 нм. В атомно-силовом режиме максимальная контролируемая разрешающая способность по XY – 2.5 нм, по Z – 1.13 нм.