| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для спектроскопического измерения толщины пленки. Обеспечивает высокую скорость и точность измерения толщины пленки, быстроту вычислений с мгновенным отображением результатов измерений. Система разделена на две секции: микроскоп и спектрометр, которые включают в себя блок с линзами объектива, ручной XY столик для образцов, электрический револьвер для объективов, фильтры и подсветку. Размеры пластин: ⌀50 мм, ⌀75 мм, ⌀100 мм, ⌀125 мм, ⌀150 мм, ⌀200 мм.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Микроскоп-спектрофотометр МСФУ-К | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| ИК-Фурье спектрометр-микроскоп HYPERION 2000, Bruker | Германия | Заказ исследования | Краснодар |