Сканирующий зондовый микроскоп SPM-9700 (Shimadzu)
14 сентября 2018
330
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для получения трехмерного изображения рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз. Позволяет измерять значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:
механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность); электрических (потенциал, проводимость); магнитных (распределение намагниченности).
Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.
механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность); электрических (потенциал, проводимость); магнитных (распределение намагниченности).
Может использоваться в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.