Атомно-силовой микроскоп Dimension Icon (Veeco)
14 сентября 2018
337
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Пермский край, Пермь |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Исследование поверхности материалов на микро- и наноуровне. Область сканирования: до 100х100 мкм.
Макс. разрешение в плоскости xy: ~1…10 нм (зависит от используемых зондов). Макс. разрешение по оси z: < 0.1 нм. Проведение измерений в воздушной/жидкой среде. Термо-контроллер (проведение исследований при температурах от -30 до 150°C). Картирование электропроводности. Торсионный анализ (отклик материала при вдавливании зонда с подкручиванием). Наноиндентация твердых материалов (используется специальный зонд). Наномеханическое картирование.
Макс. разрешение в плоскости xy: ~1…10 нм (зависит от используемых зондов). Макс. разрешение по оси z: < 0.1 нм. Проведение измерений в воздушной/жидкой среде. Термо-контроллер (проведение исследований при температурах от -30 до 150°C). Картирование электропроводности. Торсионный анализ (отклик материала при вдавливании зонда с подкручиванием). Наноиндентация твердых материалов (используется специальный зонд). Наномеханическое картирование.