Ионный сканирующий микроскоп HELIOS NANOLAB 400S (FEI)
14 сентября 2018
429
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Описание
Обеспечивает превосходное качество съемки с новейшей электронной колонной, в которой помимо полного набора детекторов предусмотрен новый способ визуализации, с которым достигается превосходный контраст и разрешение, а сфокусированный пучок ионов (ФИП) обеспечивает высоко эффективную и быструю пробоподготовку и травление. Идеально подходит для обеспечения высокой пропускной способности, высокого разрешения при подготовке (С)ПЭМ проб, обработки изображений и анализа. Разрешение в режиме электронного пучка - до 0.8 нм; Максимальный диаметр образца - 100 мм.