Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп TITAN G2 80-200 S/TEM (FEI)

Позволяет за несколько минут получать распределение элементов с атомным разрешением. Система для анализа ChemiSTEM состоит из пушки с полевой эмиссией Шоттки X-FEG высокой яркости, запатентованной системы Super-X 4-SDD, безоконного детектора EDX и быстродействующей электроники для визуализации, которая способна обрабатывать 100000 спектров / сек. Кроме получения распределения элементов на атомном уровне, Titan G2 80-200 с системой для анализа ChemiSTEM cпособен в 50-100 раз увеличить скорость и чувствительность EDX картирования по сравнению с обычной аналитической системой FEG. Такое повышение производительности позволяет быстро проводить картирование больших площадей и количественно определять элементы со спектрометром с дисперсией по энергии с концентрацией ниже 0,01 массовых долей в %. Кроме того, эту систему можно использовать для EDX томографии, что делается впервые в мировой практике.