Электронный сканирующий микроскоп Tecnai G2 30 (FEI)

Обеспечивает высокую производительность и универсальность, а также простоту использования в индивидуальной рабочей среде. Оборудование, которое может быть дополнительно установлено, например, СПЭМ, CDD камеры, детекторы для энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) и спектроскопии характеристических потерь энергии электронами (EELS) и энергетические фильтры, встроены в пользовательский интерфейс, что позволяет операторам с разным опытом работы в полной мере использовать все функциональные возможности системы через один понятный интерфейс. Электронный пучок 300 кВ в данном микроскопе обеспечивает высокое разрешение для данной геометрии объектива, а также более высокий ток пучка и проникновение в образец по сравнению с ПЭМ, использующим 200 кВ.