Сканирующий атомно-силовой микроскоп Innova (Bruker)
14 сентября 2018
332
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Татарстан, Казань |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для реализации следующих режимов работы на воздухе и в жидкости: контактный режим; режим латеральных сил; полуконтактный режим (tapping mode); режим регистрации фазы; двух-проходный режимы: магнитно-силовая микроскопия; электросиловая микроскопия; Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности); силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование); туннельная микроскопия