Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge Instruments) с системой рентгеноспектрального микроанализа LINK ISIS-200
14 сентября 2018
493
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Великобритания |
| Год производства | 1996 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 5 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением до 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.). Рентгеноспектральный микроанализ: особенности строения и вещественного состава любых твердых материалов; определение качественного и количественного химического состава объектов с размерами от 0,2-4 мкм