Универсальный сканирующий микроскоп УЭМВ-100В (ПО Электрон)
14 сентября 2018
462
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Челябинская область, Челябинск |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2004 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | от 12 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для визуального и фотографического исследования объектов (электронной микроскопии). Прибор позволяет: исследовать объекты на просвет в широком диапазоне увеличения; получать стереоскопические снимки; получать светлопольные и темнопольные изображения; производить диффракционное исследование избранного участка на просвет; проводить микродиффракционные исследования участков объектов с локальностью 1-2 мк. Электронно-оптическая система прибора снабжена двумя конденсорными, объективной, промежуточной и проекционной линзами, обеспечивающими увеличение прибора от 300 до 200.000 крат. Промежуточная и проекционная линзы обеспечивают плавное изменение увеличения при постоянном поле изображения;
Объектив снабжен стигматором, облегчающим получение высоких разрешений. Фотографирование изображений при всех видах исследований производится на фотопластинки 6,5 х 9 см.
Объектив снабжен стигматором, облегчающим получение высоких разрешений. Фотографирование изображений при всех видах исследований производится на фотопластинки 6,5 х 9 см.