| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Тайвань |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначена для тестирования устройств высокой мощности на полупроводниковой пластине. Обеспечивает реализацию технического решения для измерений на пластине с расстоянием до 150 мм и 200 мм. Позволяет успешно выполнять измерения низкого контактного сопротивления мощных полупроводниковых устройств в широком температурном диапазоне.