Атомно-силовой микроскоп SOLVER P47-PRO (НТ МДТ)

Предназначен для измерений вплоть до атомного уровня приповерхностных характеристик: рельеф, силы трения, адгезии. Представляет собой систему образец и игла. На малых расстояниях между двумя атомами, один на подложке, другой на острие, при расстоянии около одного ангстрема действуют силы отталкивания, а на больших - силы притяжения. Величина этого усилия экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Отклонения зонда при действии близко расположенных атомов регистрируются при помощи измерителя нано-перемещений, в частности, используют оптические, ёмкостные или туннельные сенсоры. Добавив к этой системе устройство развёртки по осям X и Y, получают сканирующий АСМ.