Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8530F (JEOL)

Предоставляет возможность не только получать точные результаты количественного анализа, но и регистрировать отличного качества изображения поверхности образца. Разрешение JXA-8530F в режиме регистрации вторичных электронов составляет 3 нм на аналитическом рабочем отрезке 11 мм, что является прекрасным показателем для микрозонда. Также этот прибор позволяет исследовать однородность материала, регистрируя отраженные электроны, проводить элементное картирование при помощи спектрометров с дисперсией по энергии или по длинам волн, изучать поля механических напряжений и разориентацию кристаллитов, используя систему дифракции отраженных электронов, по сути, работая в режиме растрового электронного микроскопа.