| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для работы при эпископическом/ диаскопическом освещении, который отвечает разнообразным требованиям наблюдения, контроля, исследования и анализа в широком спектре отраслей промышленности. Более высокие чем когда-либо ранее числовые апертуры и большое рабочее расстояние являются залогом исключительно высоких оптических характеристик и эффективного процесса получения цифровых изображений. Максимальный размер образца: 150 х 100 мм. Наблюдение образцов можно проводить в проходящем и отраженном свете.